一、什么是無損探傷？
答：無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測試手段。

二、常用的探傷方法有哪些？
答：常用的無損探傷方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。

三、試述磁粉探傷的原理？
答：它的基本原理是：當(dāng)工件磁化時(shí)，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁，形成局部磁場，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。

四、試述磁粉探傷的種類？
1、按工件磁化方向的不同，可分為周向磁化法、縱向磁化法、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。
2、按采用磁化電流的不同可分為：直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。
3、按探傷所采用磁粉的配制不同，可分為干粉法和濕粉法。

五、磁粉探傷的缺陷有哪些？
答：磁粉探傷設(shè)備簡單、操作容易、檢驗(yàn)迅速、具有較高的探傷靈敏度，可用來發(fā)現(xiàn)鐵磁材料鎳、鈷及其合金、碳素鋼及某些合金鋼的表面或近表面的缺陷；它適于薄壁件或焊縫表面裂紋的檢驗(yàn)，也能顯露出一定深度和大小的未焊透缺陷；但難于發(fā)現(xiàn)氣孔、夾碴及隱藏在焊縫深處的缺陷。

六、缺陷磁痕可分為幾類？
答：1、各種工藝性質(zhì)缺陷的磁痕；
2、材料夾渣帶來的發(fā)紋磁痕；
3、夾渣、氣孔帶來的點(diǎn)狀磁痕。

七、試述產(chǎn)生漏磁的原因？
答：由于鐵磁性材料的磁率遠(yuǎn)大于非鐵磁材料的導(dǎo)磁率，根據(jù)工件被磁化后的磁通密度B＝μH來分析，在工件的單位面積上穿過B根磁線，而在缺陷區(qū)域的單位面積 上不能容許B根磁力線通過，就迫使一部分磁力線擠到缺陷下面的材料里，其它磁力線不得不被迫逸出工件表面以外出形成漏磁，磁粉將被這樣所引起的漏磁所吸引。

八、試述產(chǎn)生漏磁的影響因素？
答：1、缺陷的磁導(dǎo)率：缺陷的磁導(dǎo)率越小、則漏磁越強(qiáng)。
2、磁化磁場強(qiáng)度（磁化力）大小：磁化力越大、漏磁越強(qiáng)。
3、被檢工件的形狀和尺寸、缺陷的形狀大小、埋藏深度等：當(dāng)其他條件相同時(shí)，埋藏在表面下深度相同的氣孔產(chǎn)生的漏磁要比橫向裂紋所產(chǎn)生的漏磁要小。

九、某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁？
答：某些轉(zhuǎn)動(dòng)部件的剩磁將會吸引鐵屑而使部件在轉(zhuǎn)動(dòng)中產(chǎn)生摩擦損壞，如軸類軸承等。某些零件的剩磁將會使附近的儀表指示失常。因此某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁處理。

十、超聲波探傷的基本原理是什么？
答：超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來，在螢光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。

十一、超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)的缺點(diǎn)？
答：超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高，對人體無害等優(yōu)點(diǎn)；缺點(diǎn)是對工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類、對缺陷沒有直觀性；超聲波探 傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。

十二、超聲波探傷的主要特性有哪些？
答：1、超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，在不同質(zhì)界面上具有反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時(shí)，則超聲波在缺陷上反射回來，探傷儀可將反射波顯示出來；如缺陷的尺寸甚至小于波長時(shí)，聲波將繞過射線而不能反射；
2、波聲的方向性好，頻率越高，方向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射，易于確定缺陷的位置。
3、超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（100赫茲）的超生波所傳播的能量，相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍。

十三、超生波探傷板厚14毫米時(shí)，距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系怎樣？
答：測長線 Ф1 х 6 －12dB
定量線 Ф1 х 6 －6dB
判度線 Ф1 х 6 －2dB

十四、何為射線的“軟”與“硬”？
答：X射線穿透物質(zhì)的能力大小和射線本身的波長有關(guān)，波長越短（管電壓越高），其穿透能力越大，稱之為“硬”；反之則稱為“軟”。

十五、用超生波探傷時(shí)，底波消失可能是什么原因造成的？
答：1、近表表大缺陷；2、吸收性缺陷；3、傾斜大缺陷；4、氧化皮與鋼板結(jié)合不好。

十六、影響顯影的主要因素有哪些？
答：1、顯影時(shí)間；2、顯影液溫度；3、顯影液的搖動(dòng)；4、配方類型；5、老化程度。

十七、簡述超生波探傷中，超生波在介質(zhì)中傳播時(shí)引起衰減的原因是什么？
答：1、超聲波的擴(kuò)散傳播距離增加，波束截面愈來愈大，單位面積上的能量減少。
2、材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收；二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。

十八、CSK－ⅡA試塊的主要作用是什么？
答：1、校驗(yàn)靈敏度；2、校準(zhǔn)掃描線性。

十九.、用超生波對餅形大鍛件探傷，如果用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度對工作底面有何要求？
答：1、底面必須平行于探傷面；
2、底面必須平整并且有一定的光潔度。

二十、超聲波探傷選擇探頭K值有哪三條原則？
答：1、聲束掃查到整個(gè)焊縫截面；
2、聲束盡量垂直于主要缺陷；
3、有足夠的靈敏度。

二十一、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成？
答：主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。

二十二、發(fā)射電路的主要作用是什么？
答：由同步電路輸入的同步脈沖信號，觸發(fā)發(fā)射電路工作，產(chǎn)生高頻電脈沖信號激勵(lì)晶片，產(chǎn)生高頻振動(dòng)，并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。

二十三、超聲波探傷中，晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么？
答：晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙，會使超聲波完全反射，造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無法探傷。

二十四、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的判別缺陷的三種情況是什么？
答：1、無底波只有缺陷的多次反射波。
2、無底波只有多個(gè)紊亂的缺陷波。
3、缺陷波和底波同時(shí)存在。

二十五、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途是什么？
答：距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小，給驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線、定量線、測長線三條曲線組成；
判廢線――判定缺陷的*大允許當(dāng)量；
定量線――判定缺陷的大小、長度的控制線；測長線――探傷起始靈敏度控制線。

二十六、什么是超聲場？
答：充滿超聲場能量的空間叫超聲場。

二十七、反映超聲場特征的主要參數(shù)是什么？
答：反映超聲場特征的重要物理量有聲強(qiáng)、聲壓聲阻抗、聲束擴(kuò)散角、近場和遠(yuǎn)場區(qū)。

二十八、探傷儀*重要的性能指標(biāo)是什么？
答：分辨力、動(dòng)態(tài)范圍、水平線性、垂直線性、靈敏度、信噪比。

二十九、超聲波探傷儀近顯示方式可分幾種？
答：1、A型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間（或距離）縱座標(biāo)代表反射回波的高度；2、B型顯示示波屏橫座標(biāo)代表超聲波傳遞播時(shí)間（或距離），這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖；3、C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面，這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度。

三十、超聲波探頭的主要作用是什么？
答：1、探頭是一個(gè)電聲換能器，并能將返回來的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖；2、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度，當(dāng)改變探 頭入射 角或改變超聲波的擴(kuò)散角時(shí)，可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質(zhì)內(nèi)部或改變聲波的指向性，提高分辨率；3、實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換；4、控制工作頻率；適用于不同的工作條件。

三十一、磁粉探頭的**操作要求？
答：1、當(dāng)工件直接通過電磁化時(shí)，要注意夾頭間的接觸**、或用了太大的磁化電流引起打弧閃光，應(yīng)戴防護(hù)眼鏡，同時(shí)不應(yīng)在有可能燃?xì)怏w的場合使用；2、在連續(xù)使用濕法磁懸液時(shí)，皮膚上可涂防護(hù)膏；3、如用于水磁懸液，設(shè)備 須接地良好，以防觸電；4、在用繭火磁粉時(shí)，所用紫外線必須經(jīng)濾光器，以保護(hù)眼睛和皮膚。

三十二、什么是分辨率？
答：指在射線底片或熒光屏上能夠識別的圖像之間*小距離，通常用每1毫米內(nèi)可辨認(rèn)線條的數(shù)目表示。

三十三、什么是幾何不清晰度？
答：由半影造成的不清晰度、半影取決于焦點(diǎn)尺寸，焦距和工件厚度。

三十四、為什么要加強(qiáng)超波探傷合錄和報(bào)告工作？
答：任何工件經(jīng)過超聲波探傷后，都必須出據(jù)檢驗(yàn)報(bào)告以作為該工作質(zhì)量好壞的憑證，一份正確的探傷報(bào)告，除建立可靠的探測方法和結(jié)果外，很大程度上取決于原始記錄和*后出據(jù)的探傷報(bào)告是非常重要的，如果我們檢查了工件不作記錄也不出報(bào)告，那么探傷檢查就毫無意義。

三十五、磁粉探傷中為什么要使用靈敏試片？
答：使用靈敏試片目的在于檢驗(yàn)磁粉和磁懸液的性能和連續(xù)法中確定試件表面有效磁場強(qiáng)度和方向以及操作方法是否正確等綜合因素。

三十六、什么叫定影作用？
答：顯影后的膠片在影液中，分影劑將它上面未經(jīng)顯影的溴化銀溶解掉，同時(shí)保護(hù)住黑色金屬銀粒的過程叫定影作用。

三十七、著色（滲透）探傷的基本原理是什么？
答：著色（滲透）探傷的基本原理是利用毛細(xì)現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷，經(jīng)清洗使表面滲透液支除，而缺陷中的滲透殘瘤，再利用顯像劑的毛細(xì)管作用吸附出缺陷中殘瘤滲透液而達(dá)到檢驗(yàn)缺陷的目的。

三十八、著色（滲透）探傷靈敏度的主要因素有哪些？
答：1、滲透劑的性能的影響；2、乳化劑的乳化效果的影響；3、顯像劑性能的影響；4、操作方法的影響；5、缺陷本身性質(zhì)的影響。

三十九、在超聲波探傷中把焊縫中的缺陷分幾類？怎樣進(jìn)行分類？
答：在焊縫超聲波探傷中一般把焊縫中的缺陷 分成三類：點(diǎn)狀缺陷、線狀缺陷、面狀缺陷。
在分類中把長度小于10mm的缺陷叫做點(diǎn)狀缺陷；一般不測長，小于10mm的缺陷按5mm計(jì)。把長度大于10mm的缺陷叫線狀缺陷。把長度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。

四十、超聲波試塊的作用是什么？
答：超聲波試塊的作用是校驗(yàn)儀器和探頭的性能，確定探傷起始靈敏度，校準(zhǔn)掃描線性。

四十一、什么是斜探頭折射角β的正確值？
答：斜探頭折射角的正確值稱為K值，它等于斜探頭λ射點(diǎn)至反射點(diǎn)的水平距離和相應(yīng)深度的比值。

四十二、當(dāng)局部無損探傷檢查的焊縫中發(fā)現(xiàn)有不允許的缺陷時(shí)如何辦？
答：應(yīng)在缺陷的延長方向或可疑部位作補(bǔ)充射線探傷。補(bǔ)充檢查后對焊縫質(zhì)量仍然有懷疑對該焊縫應(yīng)全部探傷。

四十三、非缺陷引起的磁痕有幾種？
答：1、局部冷 作硬化，由材料導(dǎo)磁變化造成的磁痕聚集；2、兩種不同材料的交界面處磁粉堆積；3、碳化物層組織偏析；4、零件截面尺寸的突變處磁痕；5、磁化電流過高，因金屬流線造成的磁痕；6、由于工件表面不清潔或油污造成的斑點(diǎn)狀磁痕。

四十四、磁粉檢驗(yàn)規(guī)程包括哪些內(nèi)容？
答：1、規(guī)程的適用范圍；2、磁化方法（包括磁化規(guī)范、工件表面的準(zhǔn)備）；3、磁粉（包括粒度、顏色、磁懸液與熒光磁懸液的配制）。4、試片；5、技術(shù)操作；6、質(zhì)量評定與檢驗(yàn)記錄。

四十五、磁粉探傷適用范圍？
答：磁粉探傷是用來檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷的種檢測方法。

四十六、超聲波探傷儀中同步信號發(fā)生器的主要作用是什么？它主要控制哪二部分電路工作？
答：同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號，用以觸發(fā)儀器各部分電路同時(shí)協(xié)調(diào)工作，它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路。

四十七、無損檢測的目地？
答：1、改進(jìn)制造工藝；2、降低制造成本；3、提高產(chǎn)品的可能性；4、保證設(shè)備的**運(yùn)行。

四十八、超聲波焊縫探傷時(shí)為缺陷定位儀器時(shí)間掃描線的調(diào)整有哪幾種方法？
答：有水平定位儀、垂直定位、聲程定位三種方法。

四十九、試比較干粉法與濕粉法檢驗(yàn)的主要優(yōu)缺點(diǎn)？
答：干粉法檢驗(yàn)對近表面缺陷的檢出能力高，特別適于大面積或野外探傷；濕粉法檢驗(yàn)對表面細(xì)小缺陷檢出能力高，特別適于不規(guī)則形狀的小型零件的批量探傷。